武汉测厚仪_武汉漆膜测厚仪_智博通科技(多图)
X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
精’确测量法
在规定的测量点周围增加测量数目，厚度变化用等厚线表示。
连续测量法
用单点测量法沿指定路线连续测量，间隔不大于5mm。
网格测量法
在指定区域划上网格，按点测厚记录。此方法在高压设备、不锈钢衬里腐蚀监测中广泛使用。
检测面与底面不平行，声波遇到底面产生散射，探头无法接受到底波信号。
铸件、奥氏体钢因组织不均匀或晶粒粗大，超声波在其中穿过时产生严重的散射衰减，被散射的超声波沿着复杂的路径传播，有可能使回波湮没，造成不显示。可选用频率较低的粗晶专用探头（2.5MHz)。
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